集成电路_IC测试工作原理

点击:4924次    发布时间:2015-04-19     数据来源:东莞艾迪科

集成电路_IC测试工作原理

  三态转换时间测试

  TLZ,THZ:从输出使能关闭到输出三态完成的转换时间。

  TZL,TZH:从传输使能开始到输出有效数据的转换时间。

  存储器读取时间--从内存单元读取数据所需的时间,测试读取时间的步骤一般如下所示

  (1)往单元A写入数据"0",

  (2)往单元B写入数据"1",

  (3)保持READ为使能状态并读取单元A的值,

  (4)地址转换到单元B,

  (5)转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。

  写入恢复时间--在写操作之后的到能读取某一内存单元所必须等待的时间。

  暂停时间--内存单元能保持它们状态的时间,本质上就是测量内存数据的保持时间。

  刷新时间--刷新内存的最大允许时间。

  建立时间--输入数据转换必须提前锁定输入时钟的时间。

  保持时间--在锁定输入时钟之后输入数据必须保持的时间。

  频率--通过反复运行功能测试,同时改变测试周期,来测试器件运行的速度,周期和频率通常通过二进制搜索的办法来进行变化。频率测试的目的是找到器件所能运行的最快速度。

  上面讨论了数字集成电路测试的一些基本目的和原理,同时也定义了测试上的一些关键术语,在接下来的章节里,我们将讨论怎么把这些基本原理应用到实际的IC测试中去。

 

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