所有IC都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块,IC测试就是集成电路的测试,就是运用各种方法,检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷,因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体,因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一,如果存在无缺陷的产品的话,集成电路的测试也就不需要了。
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