关于Cpk的一些知识
点击：7712次 发布时间：2015-05-21 数据来源：东莞艾迪科
测量系统的统计特性
为了获得高质量的测量数据，测量系统必须具有下述特性：
1) 测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而非特殊原因造成的，这可称为统计稳定性；
2) 测量系统的变异必须比制造过程的变异小；
3) 测量系统的变异应小于公差带；
4) 测量精度应高于过程变异和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者的十分之一；
5) 若测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化，则测量系统最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。
测量系统评价
评价一个测量系统时，首先，应看该测量系统是否有足够的分辨力，即测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力，分辨率最多是总过程的6Sigma（标准偏差）的十分之一。
测量系统误差可以分成五种类型：偏倚、线性、稳定性、重复性和再线性。
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