根据被测的器件类型不同，IC测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。
其中，数字电路测试是IC测试的基础，除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。
数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试，而功能测试一般在ATE上进行，ATE测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ATE测试座进行连接，安装在ATE测试设备上进行各功能测试。
ATE（Automatic Test Equipment）中文名即自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行IC测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元（PMU）、可编程电源和测试台、ATE测试座等。
在目前的ATE设备厂商中，占据市场主要份额的企业都来自美国和日本，代表厂商有泰瑞达（Teradyne）、爱德万（Advantest）、科利登（Xcerra）等。
其中，泰瑞达和爱德万为排名全球前二位的厂商，科利登为全第三大ATE设备商，但已被另一家美国半导体测试公司Cohu收购。目前，半导ATE行业主要形成以泰瑞达与爱德万为首的双寡头格局。
以下为全球主要的ATE设备制造商：
美国：泰瑞达（Teradyne），科利登（Xcerra，已被美国Cohu公司收购），美国国家仪器（NI），Hilevel，Roos Instruments，KingTiger，Test Evolution，Telco，Sandtek，安捷伦（Agilent，现名是德科技），科休（Cohu）等。
日本：爱德万（Advantest），VTT，Tesec，芝测（Shibasoku），innotech，爱普生（Epson）等。
中国台湾：致茂（Chroma），德律（TRI），久元电子（YTEC），京元电子（KYEC），美达科技（Amida），鸿劲科技（HonTech）等。
中国大陆：华峰测控（Accotest），上海中艺，友能电子（JUNO），宏测（MacroTest），绍兴宏邦（Qatest），无锡泰思特，冠中集创，联动科技（PowerTech），信诺达泰斯特（SinodyneTest），上海凌测（Merlin），上海御渡（Ncatest），励芯泰思特（LiXinTest），北京诚泰思特，捷科科技，联合科仪等。
韩国：Exicon，Unitest，Testlan，IT-T等。
其余厂商有马来西亚的Aemulus，新加坡的SineTest，法国的Mutest，意大利的Spea，德国的Spektra以及俄罗斯的Form等。
深圳市艾迪科有限公司，可根据客户使用的ATE测试设备需求定制各类封装芯片的ATE测试座，test socket